Flex10K-L国产高通道LCD Driver测试机主要应用于各类显示驱动芯片测试，整机包含MF机柜和TH机头，TH最高支持31槽位，支持DFB、LPB、LPP、RVS、CBIT、HSIF等资源板卡。该系统采用优良的设计架构，具有良好的测试性能和量产测试能力，可以有效地降低高分辨率屏显驱动芯片的测试成本。

ST2500EX高性能数模混合信号测试机，支持1024数字通道配置。该系统硬件结构采用Direct Docking连接方式，可以兼容J Type针卡，降低客户转平台治具成本。ST2500EX还具有灵活的可扩展性，可搭载无线综测仪、RF测试模块及各类高性价比解决方案。

ST2500E高密度数模混合信号测试机广泛应用于SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、 AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。

ST2500A高性能数模混合信号测试系统是基于ST2500系列产品扩展的一套不仅能够实现数字信号测试，同时还能满足了模拟测试需求的测试系统。该系统具有丰富的板卡资源(DFB32、FOVI50、OTMU、CBIT、SMU20)，可以满足各类数模混合高并行测试需求。

ST2516高性能数字混合信号测试系统，可以实现32~320个数字通道灵活组合配置，实现最高机器利用率。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及模块，如SMU、HRAWG、HRDGT、BlueTooth、WiFi等测试模块。

ST2564高性能数字混合信号测试系统可以广泛应用于S0C/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、LED Driver、ClS、指纹芯片、PMIC、Bluetooth、WiFi、loT等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。

eATE数模混合信号测试系统是加速科技新推出的一款集成数字集成电路测试功能的紧凑型可移动测试系统。系统支持50Mbps数据速率;业务功能板卡采用all-in-one设计模式，功能集成度高，体积小巧、简洁轻便，性价比高，是小型芯片验证的选择。

ST7008无线综合测试仪能够支持Sub-6GHz多域并行测试，具有信号发送功能，能够实现频率、解调特性及频谱特性等测试，对未来无线测试标准有优异的扩充性。